消費者的多樣化需求,導致車上搭載的電子設(shè)備增多(LED大燈、液晶顯示屏、車載音響、無線充電器等等),而這些電子設(shè)備均需要供電。牽扯到電,各類安全性測試就是重中之重。
本次想和大家分享的是load dump測試,即拋負載測試。
|直流電源拋負載測試基本概念:
①load dump:即拋負載,指汽車交流電機工作時,蓄電池短路導致負載突降的現(xiàn)象,拋負載會導致發(fā)電機產(chǎn)生浪涌電壓,該電壓會對各類電子設(shè)備造成較大損傷。
②ISO 16750:汽車電子安全性規(guī)范,其中16750-2針對的電子設(shè)備測試,涵蓋了load dump測試。
| 可編程直流電源拋負載測試方法:
通過可編程電源,模擬拋負載發(fā)生時的浪涌電壓波形,并將其輸出至電子設(shè)備端,通過數(shù)次測試判斷電子設(shè)備如能正常工作,即表明該電子設(shè)備通過測試。
| 可編程直流電源浪涌電壓波形:
U:測試電壓
t:時間
td:持續(xù)時間
tr:上升時間
UA:正常工作電壓
Us: 最大電壓
Us*:最大電壓(含拋負載保護器)
上圖為回路是否設(shè)置拋負載保護器對應(yīng)波形
電子設(shè)備經(jīng)受規(guī)定次數(shù)拋負載波形,通過受影響表現(xiàn)劃分5個等級:
A類:設(shè)備或系統(tǒng)在暴露于干擾期間和之后,能執(zhí)行其預先設(shè)計的所有功能
B類:設(shè)備或系統(tǒng)在暴露于干擾期間,能執(zhí)行其預先設(shè)計的所有功能,但有一項或多項指標超出規(guī)定偏差。所有功能在移除直接暴露干擾之后自動回復到正常允許范圍內(nèi)。預先設(shè)計功能維持A類水平
C類:設(shè)備或系統(tǒng)在暴露于干擾期間,不執(zhí)行其預先設(shè)計的一項或多項功能,但在直接暴露干擾之后能自動回復到正常操作狀態(tài)
D類:備或系統(tǒng)在暴露于干擾期間,不執(zhí)行其預先設(shè)計的一項或多項功能,直到移除直接暴露干擾之后及通過簡單的“操作或使用”回復動作之后才能自動恢復到正常操作狀態(tài)
E類:設(shè)備或系統(tǒng)在暴露于干擾期間和之后,不執(zhí)行其預先設(shè)計的一項或多項功能,且如果不修理或不替換設(shè)備或系統(tǒng),則不能恢復其操作
針對拋負載測試,推薦我方SYSKON系列可編程直流電源,優(yōu)勢如下:
1. 響應(yīng)時間短(小于2ms)
2. 編程(可導入/導出儲存波形文件,模擬測試波形)
3. 精度高(0.05%+30mV)
固話:021-63801098
手機:+86 13817443004
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